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SIGMAKOKI/西格玛光机反射率测量仪

SIGMAKOKI/西格玛光机反射率测量仪
可实现微小区域和曲面的反射率测量。
可直接测量未经处理的透明薄板的反射率，并能几乎不受底面反射的影响；可快速高精度测量曲面和平面的反射率。

  • 产品型号：SGRM-200N
  • 厂商性质：经销商
  • 更新时间：2024-11-30
  • 访  问  量：958
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产品详情

SIGMAKOKI/西格玛光机反射率测量仪

可实现微小区域和曲面的反射率测量。

可直接测量未经处理的透明薄板的反射率，并能几乎不受底面反射的影响；可快速高精度测量曲面和平面的反射率。

采用了特殊结构的半透镜，能高效地收集被测试样的反射光，并高效地导入分光光度计，可快速地完成低反射率样品的测量。
采用了特殊的光学结构，有效地避免了底面反射的影响，可直接测量未经处理的透明薄板的反射率。
(使用20倍物镜时，可测最小透明薄板厚度可达0.3mm）
采用了特殊卤素灯和*创的光学设计，其有效光量大，获取数据快，重复精度高。
测量点小(典型值为φ50μm)，可直接测曲面，以及膜层的分布特性。
结构紧凑，体积小，不占空间。
可用Microsoft® Excel®文件格式保存测量数据。
可在同一窗口内，同时显示多个样品的测量结果(曲线)，
方便数据的对比分析。
采用峰值跟踪技术，提高了反射率的重复测量精度
技术指标
型号SGRM-200N
测定波长范围380 〜 1050nm
样品侧N.A0.22(使用10倍物镜时)
0.44(使用20倍物镜时)
测量光斑尺寸约φ25μm（使用10倍物镜时）
样品的曲率半径-2mm～-∞,+2mm～∞
再现性精度±0.2％ (380 〜 450nm)
±0.02％ (451 〜 950nm)
±0.2％ (951 〜 1050nm)
显示分辨率1nm
测量时间数秒（受选定的采样时间影响）
外形尺寸(本体）270(W)×465(D)×615(H)mm (不含突出部）
工作温度范围18 〜 28℃
工作湿度范围60%以下（无结露现象）


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